赫爾納供應(yīng)德國(guó)LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖UVC

赫爾納供應(yīng)德國(guó)LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖UVC

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢(shì)供應(yīng),德國(guó)總部直接采購(gòu)，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品，為您提供一對(duì)一好的解決方案，貨期穩(wěn)定。

公司簡(jiǎn)介：

我們公司的歷史始于 1976 年的柔性激光導(dǎo)光器。幾年后，我們開發(fā)出了紅外線凝固器。它使組織的醫(yī)療消除變得容易。我們的市場(chǎng)是醫(yī)療技術(shù)。

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖主要產(chǎn)品：

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖

LUMATEC內(nèi)窺鏡

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖產(chǎn)品型號(hào)：

UVC

M 05

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖產(chǎn)品特點(diǎn)：

電池+充電器一體化

打火機(jī)（-1公斤）

紫外線功率增加 50%

充電時(shí)間短，1小時(shí)內(nèi)充電80%

優(yōu)化的通風(fēng)理念有效防止雜散光逸出

525nm 濾光片，用于檢查經(jīng)茚滿二酮鋅處理的指紋

625nm 濾光片作為紅外攝像機(jī)的光源

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖產(chǎn)品應(yīng)用：

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖250 系列光穩(wěn)定性達(dá) UVC 范圍，250 系列是 UVC 系列晶圓生產(chǎn)和光固化鍵合的解決方案。適用于高功率紫外激光器。 借助 M 05 系列的新型多頭，一個(gè)頭中多可集成 6 個(gè)不同的 LED。需轉(zhuǎn)動(dòng)外殼，可改變激發(fā)波長(zhǎng)（包括365nm、390nm、405nm、445nm、530nm、620nm和白光），從而能夠快速、與多個(gè)單獨(dú)的相比，簡(jiǎn)化的操作、顯著低的重量以及防止在平坦表面上滾動(dòng)的新外殼設(shè)計(jì)，M 05 系列中重要的進(jìn)一步發(fā)展。

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖流體光導(dǎo)是束狀石英玻璃纖維的，與由成束石英玻璃纖維制成的光纖相比，液體填充光纖具。他們的優(yōu)勢(shì)在于建筑。這是因?yàn)榱黧w光導(dǎo)的行為就像直徑大的單根石英玻璃纖維。光線通過(guò)光導(dǎo)時(shí)在整個(gè)橫截面發(fā)生全反射。LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖在成束的光纖電纜中，石英玻璃纖維之間的空間因光傳輸而損失。因此，與束狀石英玻璃纖維相比，我們的流體光導(dǎo)可為目標(biāo)帶來(lái)高的光強(qiáng)度。

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖流體光導(dǎo)在很多方面都很由于采用液體芯和塑料護(hù)套，我們的光纖不會(huì)斷裂。成束的玻璃纖維會(huì)因材料疲勞而斷裂。我們的流體光導(dǎo)的孔徑明顯大，可效率并支持這些光導(dǎo)的應(yīng)用。LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖高強(qiáng)度的光，我們的流體光導(dǎo)都是傳輸光的選擇。LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖我們生產(chǎn)適用于從紫外線到紅外線的各種光譜的光導(dǎo)。它們有多種端件可供選擇。

流體光導(dǎo)的局限性，流體光導(dǎo)的使用沒(méi)有限制。光導(dǎo)的橫截面是圓形的。流體光導(dǎo)喜歡人們能夠很好應(yīng)對(duì)的環(huán)境條件。

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖四個(gè)經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)光導(dǎo)，到目前為止，我們已經(jīng)開發(fā)了四種類型的流體光導(dǎo)，它們的主要區(qū)別在于液體的光學(xué)特性。您可以在下面的圖表中看到我們的光導(dǎo)的各種透射光譜和規(guī)格。我們的光導(dǎo)具有各種橫截面和不同的涂層。我們還提供四極的不同連接。

LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖SUPERLITE F 05 是移動(dòng)多光譜現(xiàn)場(chǎng)燈概念的進(jìn)一步發(fā)展，具有高的紫外線輸出。10 個(gè)濾波器級(jí)中有 8 個(gè)等應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化。濾光輪還允許您在光譜范圍之間快速切換，從而可以“掃描"環(huán)境，例如，如果仍然存在未知的軌跡。LUMATEC晶圓檢測(cè)光纖新設(shè)計(jì)的通風(fēng)概念具有 3D 通風(fēng)通道，可有效防止雜散光逸出，以免影響分析過(guò)程中的光質(zhì)量。